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產(chǎn)品中心
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熱流儀(超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)）
熱流儀/超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)應(yīng)用于5G通 信、半導(dǎo)體芯片、傳感器等領(lǐng)域。在短的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害，減少測(cè)試與驗(yàn)證時(shí)間，快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。￥ 0.00Learn more >>
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DDR 4顆寬溫BIT老化柜
整合了 CPU/內(nèi)存Stress，ECC check, MCE check, SPD DATA Dump的一站式測(cè)試方案。
多種配置組合，適應(yīng)用戶不同使用場(chǎng)景，如研發(fā)中心SIT測(cè)試，研發(fā)團(tuán)隊(duì)硬件匹配性測(cè)試，工廠測(cè)試，RMA維修，進(jìn)料檢。
DDR內(nèi)存測(cè)試是非常重要的，可以確保計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和性能。在進(jìn)行DDR內(nèi)存測(cè)試時(shí)，需要使用專業(yè)的測(cè)試工具和軟件來檢測(cè)內(nèi)存的速度、容量和穩(wěn)定性。通過定期進(jìn)行DDR內(nèi)存測(cè)試，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決內(nèi)存問題，確保系統(tǒng)運(yùn)行的順暢和穩(wěn)定。DDR內(nèi)存測(cè)試還可以幫助用戶評(píng)估內(nèi)存的性能，選擇適合自己需求的內(nèi)存產(chǎn)品。￥ 0.00Learn more >>
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EMMC 4顆寬溫BIT老化柜
近幾年EMMC應(yīng)用領(lǐng)域從手機(jī)應(yīng)用延伸到IOT、工業(yè)、醫(yī)療甚至是車用電子。這個(gè)微小的芯片中，儲(chǔ)存了許多重要的數(shù)據(jù)，在面對(duì)各種不同的應(yīng)用場(chǎng)景時(shí)，芯片的可靠度、衰老以及對(duì)于工作環(huán)境溫度的穩(wěn)定性也變得極為重要。
如何確保產(chǎn)品所使用的EMMC與UFS能夠在這些艱難的環(huán)境下提供穩(wěn)定的功能與效能表現(xiàn)也成為工程師極為關(guān)注的項(xiàng)目。￥ 0.00Learn more >>
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Flash-Nand 8顆寬溫BIT老化箱
Flash-Nand 8顆寬溫BIT老化柜可以通過物理測(cè)試和邏輯測(cè)試方法，讀取到 NAND Flash 閃存芯片的真實(shí)性能參數(shù)，實(shí)時(shí)地測(cè)試閃存顆粒的各類特性，并一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告，同時(shí)Flash-Nand 4顆寬溫BIT老化柜可依據(jù)不同測(cè)試場(chǎng)景需求，提供基礎(chǔ)測(cè)試（實(shí)現(xiàn)閃存質(zhì)量分級(jí)）、實(shí)驗(yàn)測(cè)試（對(duì)閃存顆粒實(shí)際壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，可輸出對(duì)比報(bào)告）、高階測(cè)試（自由選擇測(cè)試 pattern，設(shè)置測(cè)試條件，實(shí)現(xiàn)對(duì)顆粒性能的測(cè)試分析）。￥ 0.00Learn more >>
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SATA 800片高溫RDT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品量產(chǎn)階段數(shù)量多的高溫RDT老化測(cè)試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測(cè)試，實(shí)時(shí)測(cè)控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的電流與功耗。在高溫RDT老化測(cè)試過程中，可以準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的性能表現(xiàn)，確保其在量產(chǎn)階段能夠穩(wěn)定可靠地運(yùn)行。同時(shí)，實(shí)時(shí)測(cè)控表面老化溫度可以幫助識(shí)別潛在的故障點(diǎn)，提前進(jìn)行必要的維護(hù)和調(diào)整，從而提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量和可靠性。擴(kuò)展實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電流與功耗也能有效評(píng)估產(chǎn)品的能效表現(xiàn)，為后續(xù)的優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。￥ 0.00Learn more >>
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SATA 300片高溫RDT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品量產(chǎn)階段數(shù)量多的高溫RDT老化測(cè)試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測(cè)試，實(shí)時(shí)測(cè)控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的電流與功耗。
在高溫RDT老化測(cè)試過程中，可以準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的性能表現(xiàn)，確保其在量產(chǎn)階段能夠穩(wěn)定可靠地運(yùn)行。同時(shí)，實(shí)時(shí)測(cè)控表面老化溫度可以幫助識(shí)別潛在的故障點(diǎn)，提前進(jìn)行必要的維護(hù)和調(diào)整，從而提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量和可靠性。擴(kuò)展實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電流與功耗也能有效評(píng)估產(chǎn)品的能效表現(xiàn)，為后續(xù)的優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。￥ 0.00Learn more >>
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EMMC，UFS 性能測(cè)試FPGA板卡
測(cè)試產(chǎn)品通道數(shù)量：1 顆
產(chǎn)品兼容：三星，東芝，海力士，長(zhǎng)江存儲(chǔ)，鎂光。￥ 0.00Learn more >>
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PCIE-AIC （GEN3,GEN4) 1拖4帶性能測(cè)試板卡
測(cè)試產(chǎn)品通道數(shù)：4 Port。
接口：AIC （GEN3,GEN4)。￥ 0.00Learn more >>
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IC 應(yīng)力篩選綜合測(cè)試系統(tǒng)
涂層、材料或線頭上各種微觀裂紋擴(kuò)大檢測(cè)｜粘接不好的接頭松馳檢測(cè)｜使螺釘連接或鉚接不當(dāng)?shù)慕宇^松馳檢測(cè)｜使機(jī)械張力不足的壓配接頭松馳檢測(cè)｜合質(zhì)量差的焊點(diǎn)接觸電阻加大或造成開路檢測(cè)｜密封失效檢測(cè)。￥ 0.00Learn more >>
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SSD 步入式智能化測(cè)試系統(tǒng)
SSD的智能化測(cè)試系統(tǒng)采用Win7操作系統(tǒng)平臺(tái)，通過開放式腳本模式，可以任意的修改高低溫箱的溫度及SATA產(chǎn)品的測(cè)試項(xiàng)目，通過LUNIX系統(tǒng)和路油器進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸，實(shí)現(xiàn)一鍵式操作，網(wǎng)絡(luò)化控制，節(jié)省人工，實(shí)現(xiàn)智能化數(shù)據(jù)管理，長(zhǎng)久保留測(cè)試結(jié)果。￥ 0.00Learn more >>
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Flash芯片智能化軟硬件綜合測(cè)試
Flash 芯片異常斷電測(cè)試｜Flash 芯片讀寫測(cè)試｜Flash 芯片 ATA1-8指令測(cè)試｜Flash 芯片算法映射表驗(yàn)證｜Flash 芯片測(cè)試箱｜Flash 芯片高低溫箱訂制｜Flash 芯片測(cè)試裝置｜Flash 芯片測(cè)試治具｜UFS，PCIE，EMMC測(cè)試系統(tǒng)｜Flash老化與篩選測(cè)試。￥ 0.00Learn more >>
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電磁式振動(dòng)臺(tái)YC XY 300
電磁式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)在實(shí)驗(yàn)室條件下模擬振動(dòng)環(huán)境，測(cè)試各種振動(dòng)試驗(yàn)應(yīng)用領(lǐng)域中的沖擊強(qiáng)度和可靠性。￥ 0.00Learn more >>
新聞中心
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SSD的特點(diǎn)——憶存智能
隨著科技的不斷發(fā)展，計(jì)算機(jī)的存儲(chǔ)設(shè)備也在不斷地更新?lián)Q代。其中，SSD（Solid State Drive）固態(tài)硬盤是一種新型的存儲(chǔ)設(shè)備，它采用了閃存芯片作為存儲(chǔ)介質(zhì)，相比于傳統(tǒng)的機(jī)械硬盤，SSD具有更快的讀寫速度、更低的能耗和更高的可靠性。下面，我們將為大家介紹SSD的特點(diǎn)。
넶105 2024-03-19
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2024-03-28
? 公司新研發(fā)雙工位熱流儀
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2024-03-19
? SSD的特點(diǎn)——憶存智能
解決方案
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NAND-FLASH顆粒芯片自動(dòng)化測(cè)試方案
NAND-FLASH顆粒芯片自動(dòng)化測(cè)試方案
1. 設(shè)計(jì)并搭建自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，包括測(cè)試設(shè)備、測(cè)試程序和數(shù)據(jù)分析工具。
2. 開發(fā)測(cè)試程序，覆蓋NAND-FLASH顆粒芯片的各項(xiàng)功能和性能指標(biāo)。
3. 設(shè)計(jì)自動(dòng)化測(cè)試流程，實(shí)現(xiàn)高效、準(zhǔn)確地對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試。
4. 運(yùn)行自動(dòng)化測(cè)試，收集數(shù)據(jù)并生成測(cè)試報(bào)告。
5. 分析測(cè)試結(jié)果，評(píng)估芯片性能并提出改進(jìn)建議。넶142 2024-03-29
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2024-03-30
? eMMC 生命周期預(yù)測(cè)、驗(yàn)證和測(cè)試
廣東憶存智能裝備有限公司，核心由一群專業(yè)從事可靠性測(cè)試設(shè)備研發(fā)與生產(chǎn)的技術(shù)人發(fā)起成立。有著豐富的測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)，研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，生產(chǎn)包括高低溫箱，高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱，快速溫變?cè)囼?yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，鹽霧，淋雨，沙塵，三綜合，HAST,熱流儀等測(cè)試設(shè)備。 產(chǎn)品得到多個(gè)行業(yè)客戶的贊楊，并且受到動(dòng)力電池、軍工、芯片類高端客戶的信任與采購支持。
公司產(chǎn)品在傳統(tǒng)可靠性測(cè)試箱的基礎(chǔ)上，開發(fā)了國(guó)內(nèi)領(lǐng)先的SSD智能化測(cè)試系統(tǒng)、SSD軟硬件綜合解決方案。目前公司擁有可靠性試驗(yàn)箱硬件開發(fā)團(tuán)隊(duì)，擁有多項(xiàng)發(fā)明專利及實(shí)用新型專利，多項(xiàng)計(jì)算機(jī)箸作權(quán)。
關(guān)于憶存
2010年
創(chuàng)始于
200+
企業(yè)員工
50年
研發(fā)創(chuàng)新團(tuán)隊(duì)
100+
合作客戶
產(chǎn)品得到多個(gè)行業(yè)客戶的贊楊，并且受到動(dòng)力電池、軍工、芯片類高端客戶的信任與采購支持。
服務(wù)熱線： 13058584182 / 4001017871
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